精密冷鏡露點(diǎn)儀在使用過程中需要注意的問題

　　精密冷鏡露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過程和實(shí)驗(yàn)室的溫度測量與控制，以及氣體行業(yè)中水分指標(biāo)測量等。在現(xiàn)代溫度測量技術(shù)中占有相當(dāng)重要的位置。
 

　　精密冷鏡露點(diǎn)儀在使用過程中需要注意的問題：
 

　　1. 鏡面的污染對露點(diǎn)測量的影響 在露點(diǎn)測量中，鏡面污染是一個(gè)突出的問題，特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的，但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會隨時(shí)間的增加而積累。為了消除污染的影響， 直觀的方法是對被測氣體進(jìn)行過濾。同時(shí)根據(jù)具體情況定期或隨時(shí)清洗鏡面。此外，通過對鏡面的加熱，并通氣吹除污染雜物，在污染比較明顯的情況下也可以多次重復(fù)進(jìn)行節(jié)露和消露過程來實(shí)現(xiàn)。
 

　　2. 低霜點(diǎn)測量中的問題 露點(diǎn)儀是微量水測量中為數(shù)不多的較有效的手段之一。但是在測量中有些問題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問題。在低含水量的情況下，霜層很薄，變化也慢，增加了檢霜的困難，如露點(diǎn)低于-65℃，鏡面上水分子移動性很小，結(jié)晶速度相應(yīng)下降，從霜層的出現(xiàn)到相對穩(wěn)定需要一定時(shí)間。霜點(diǎn)溫度越低，困難越大，測量誤差也迅速增加。
 

　　研究表明，當(dāng)霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍(lán)色絲狀結(jié)晶的薄霧。在這個(gè)溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當(dāng)于一個(gè)分子層的厚度，由此可見，在更低的霜點(diǎn)溫度下測量是難以進(jìn)行的。
 

　　另一個(gè)是過程問題，這種現(xiàn)象容易在高空探測中發(fā)生。 在低溫下，由于冰的結(jié)晶過程緩慢，往往在達(dá)到霜點(diǎn)溫度時(shí)霜層還未出現(xiàn)，當(dāng)溫度繼續(xù)降低，水開始結(jié)冰，在過飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時(shí)的飽和水氣壓不是冰而應(yīng)該是過冷水的飽和水氣壓，如上所述，由于過冷現(xiàn)象，霜點(diǎn)測量誤差有時(shí)高達(dá)幾度，因此，低霜點(diǎn)測量要特別小心，保持足夠長的平衡時(shí)間。